页首隐藏保持正确返回此处

[站内导航]  [排样资源]  [排样专著]  [软件浏览]  [软件下载]  [排样论文]  [排样例题]  [寻求合作] [主持人]

崔耀东教授个人主页

 

姓名

崔耀东

最终学历

博士研究生

学位

工学博士

职称

教授

所在单位

广西师范大学计算机科学与信息工程学院

通信地址

桂林广西师范大学计算机科学系

邮政编码

541004

电子邮箱

 
    个人简历         研究方向        研究生培养                  出版专著

    中文论文         英文论文        发表论文的英文杂志目录       担任论文评审专家的英文杂志目录

 

 

 

 

个人简历

返回页首

崔耀东,博士,广西师范大学计算机科学与信息工程学院教授,学术委员会主任,北京交通大学兼职教授。1978年10月至1985年3月在南京航空航天大学飞机制造工程专业读本科和硕士研究生,先后获工学学士和工学硕士学位;1999年9月至2002年6月在南京航空航天大学航空宇航制造工程专业读博士,获工学博士学位。1987年任经济学科讲师;1992年任经济学科副教授;2000年任机械学科教授;2001年至今任计算机科学与技术学科教授。

研究方向为优化计算技术与CAD担任SCI检索国际杂志Computers & Operations Research编委(2007年影响因子1.147),担任十余种SCI检索国际杂志的论文评审专家。以第一作者或独著身份发表论文情况如下:在计算机辅助设计与图形学学报、控制与决策、机械科学与技术、系统工程等数十种中文杂志上发表论文一百多篇;在英文国际杂志上发表论文三十多篇。第一作者论文中,有三十多篇在SCI检索杂志上发表,四十多篇在EI检索杂志上发表。主持国家自然科学基金项目一项,主持广西科学基金项目两项,参与多项国家级与省部级基金项目的研究。

 

研究方向

返回页首

研究方向为优化计算技术与CAD。测重于应用问题的基础算法研究,即应用确定性优化技术(线性规划、动态规划、递归技术、分支定界等)和不确定性优化技术(遗传算法、模拟退火算法、粒子群算法、神经网络算法等),设计解决应用问题的基础算法。具体包括如下内容:

排样问题(Cutting problems)

计算机辅助排样是计算机辅助设计与制造(CAD/CAM)技术的重要分支之一,它广泛地应用于线材、卷材和板材的分割排样,通过提供高质量的排样方案,达到节约原材料,降低产品成本的目的。

在国民经济许多行业中,都会遇到材料分割问题。例如:服装制造业的布匹分割;皮革制品制造业的皮革分割;木材加工及制品业的圆木、方木或胶合板的分割;家具制造业木制家具用的胶合板分割,铁制家具用的金属型材、管材和板材的分割;纸制品业的纸张分割;体育用品制造业制造体育器材用的型材、管材和板材的分割;塑料制品业的塑料板材、管材和棒材的分割;金属制品、普通机械、专用设备、交通运输设备等制造行业的棒材、型材、管材、卷材和板材的分割;重型机械制造业的中厚钢板数控切割;电气机械制造业的硅钢板材与硅钢卷材的分割;建筑行业的平板玻璃分割;建筑装饰行业的装饰材料分割等。因此,在各种计算机辅助设计与制造技术中,计算机辅助排样技术是应用范围最为广泛的技术之一。

在材料分割问题中,金属材料的分割占有特别重要的地位,因为一个中等规模的以金属材料作为产品主体的制造企业,每年需要分割的各类金属线材、卷材和板材,可能多达数千乃至上万吨。在材料分割中应用计算机辅助排样技术,即使只将下料利用率提高百分之一,其节材效果也是相当可观的。事实上对于多数材料分割问题,和人工排样相比,应用计算机辅助排样技术使下料利用率提高的幅度,远远高于百分之一

填充问题(Packing problems)

充问题与排样问题相似,通常指在容器内填充或在指定区域内摆放物品,使容器或指定区域得到充分的利用 。填充的典型应用包括装载问题:通过优化装载方案使运输用容器(如集装箱、车箱等)的容量得到充分利用;摆放问题:在指定区域内摆放物品,使区域面积得到充分利用。

布图规划(Floorplan)

集成电路芯片除了用于制造通信产品和计算机外,还广泛地用于制造家电、汽车和其它机械产品的控制系统。大规模集成电路技术的发展,依赖于设计自动化和计算机辅助设计技术的进步。物理设计是集成电路设计的重要组成部分,而集成电路模块的布图规划是物理设计中最重要的一环。在满足用户约束条件的前提下,通过优化模块布图,提高芯片的面积利用率和缩短模块间互联线的总长度是布图规划追求的重要目标。

计算机辅助设计与制造(CAD/CAM)

重点研究优化计算技术在CAD/CAM中的应用。例如,采用优化排样技术生成排样方案,将排样方案转化为驱动数控切割机床运行的数控代码,实现自动排样与数控编程等。

企业资源计划

企业资源计划中的许多模块牵涉到优化计算技术。例如,计算机辅助排样系统可以在企业材料消耗的全过程中加以应用,通过综合考虑材料尺寸选购、下料排样、余料控制等环节,以排样系统为基础实现计算机辅助决策,可以最大限度的节约材料,降低产品成本。

 

 

研究生培养

返回页首

2001年至2003年任计算机软件与理论学科硕士生导师;2004年至今任计算机应用技术学科硕士生导师,兼任计算机软件与理论学科硕士生导师。截止2008年9月,先后招收硕士研究生25人(含同等学历4人);已毕业16人,全部获得硕士学位。

本研究方向的硕士生,在论文阶段主要涉及的能力包括:(1)较为熟练地掌握一种应用程序开发工具,如VC或者VB等;(2)具有良好的计算机与数学基础知识;(3)具有较好的算法设计能力;(4)能够较为熟练地阅读英文研究文献。通过三年培养,使学生能够胜任本领域的科学研究工作;对于志愿从事教学工作或继续攻读博士学位的学生,使之能够掌握优化算法的设计与实现方法,具有写作较高水平科研论文的能力;对于志愿从事专业技术工作的学生,使之能够应用优化计算技术设计高级应用软件,能够对国民经济各行业以优化计算技术为基础的应用系统进行系统分析与设计。

优化计算技术解决的问题出现在国民经济多个行业,因此,本研究方向具有学科交叉的特点,分别为计算机应用技术、制造工程、运筹学、管理科学、微电子科学等学科交叉研究的内容。欢迎对本方向有兴趣的计算机专业或相关专业的本科生报考。

 

 

 

发表论文的英文杂志目录

返回页首

英文论文在下列被SCIEI检索的英文杂志中发表:

Applied Mathematical Modelling (SCIE+EI)

Computational Optimization and Applications (SCI+EI)

Computers & Operations Research (SCIE+EI)

Engineering Computations (SCIE+EI)

Engineering Optimization (SCIE+EI)

European Journal of Operational Research (SCIE+EI)

IIE Transactions (SCI+EI)

International Journal of Advanced Manufacturing Technology (SCIE+EI)

International Journal of Information and Management Sciences (EI)

Journal of Combinatorial Optimization (SCIE+EI)

Journal of Engineering Manufacture (SCI+EI)

Journal of Global Optimization (SCI+EI)

Journal of Materials Processing Technology (SCIE+EI)

Journal of the Operational Research Society (SCI+EI)

Mathematical & Computational Applications (EI)

Mathematical and Computer Modelling (SCIE+EI)

Omega, The International Journal of Management Science (SCIE+EI)

Operations Research Letters  (SCI+EI)

Optimization Methods and Software (SCIE+EI)

 

 

担任论文评审专家的英文杂志目录

返回页首

担任下列英文杂志的论文评审专家:

Computer-Aided Design (SCI+EI)

Computers & Industrial Engineering (SCIE+EI)

Computers & Operations Research (SCIE+EI)

Computational Optimization and Applications (SCI+EI)

Engineering Optimization (SCIE+EI)

European Journal of Operational Research (SCIE+EI)

High Technology Letters (EI)

INFORMS Journal on Computing (SCI+EI)

Journal of Combinatorial Optimization (SCIE+EI)

OR Spectrum (SCIE+EI)

Optimization Methods and Software (SCIE+EI)